材料的凝固与气相沉积
知识点5:晶核长大的必要条件
金属液体过冷一旦形核,在继续降温过程中,液体中的原子会不断向晶核沉积,这一过程就是晶体的成长。晶体继续长大直至消耗完全部液体,结晶过程就结束了。
过冷度的影响:
- 在过冷度过小时,熔化速率大于凝固速率,此时晶核不会长大,并且会缓慢熔化。
- 在过冷度足够大时,熔化速率小于凝固速率,此时晶核不断长大。
- 随着过冷度的增大,长大凝固的速率会越来越大,直到来不及形成晶体,直接变成固体,也称之为极速凝固的高熵合金。
如图所示,图表描述了过冷度与晶核长大行为的关系。
知识点6:固液界面的微观构造
假设固液界面上共有 $N$ 个原子的位置,其中 $N x$ 个被固相原子占据,也就是说固相原子的占据百分数为 $x$。那么空位(被液相分子占据的位置)的数量为 $v = N (1 - x)$。
空位的存在会引起内能和结构熵的变化,从而影响表面能的变化。由于固液表面的凝固是分子级别的,可以近似认为表面的:
内能变化 ($ \Delta U $):
形成一个空位所增加的内能,由其断开的固态键数和一对原子的键能共同决定。内能变化可表示为:
$$ \Delta U = \frac{1}{2} \epsilon (Z_i - Z_s) v $$
其中:- $ \epsilon $:键能,定义为 $ \epsilon = \frac{2 L_m}{Z_i N_A} $。
- $ Z_i $:晶体内部原子的配位数。
- $ Z_s $:晶体表面原子的配位数。
- $ L_m $:摩尔熔化热,即熔化时断开固态键所需的能量。
- $ v $:空位数。
- $ N_A $:阿伏伽德罗常数。
由于 $ L_m = \frac{1}{2} Z_i \epsilon N_A $,可得 $ \epsilon = \frac{2 L_m}{Z_i N_A} $。
结构熵变化 ($ \Delta S $):
结构熵变化表示为:
$$ \Delta S = -k N [ x \ln x + (1 - x) \ln (1 - x) ] $$
其中:- $ k $:玻尔兹曼常数。
- 结构吉布斯自由能变化 ($ \Delta G $):
$$ \Delta G = \Delta U - T \Delta S = \frac{1}{2} \epsilon (Z_i - Z_s) N (1 - x) + k T N [ x \ln x + (1 - x) \ln (1 - x) ] $$
界面类型与 $ \alpha $ 的关系
考虑到材料的熔化熵 $ \Delta S_m = \frac{L_m}{T_m} $,定义参数 $ \alpha = \frac{\Delta S_m}{R} $,其中 $ R $ 为气体常数。对一般固体,$ \Delta S_m \approx R $。
如图所示,$ \Delta G $ 与固相原子占据分数 $ x $ 的关系曲线根据 $ \alpha $ 的不同分为三类:
- $ \alpha < 2 $ 时(粗糙界面):
曲线都在 0 以下,此时界面上固体原子和液体原子的比例近似为 1:1,微观上呈现粗糙状态。 - $ 2 < \alpha < 3.5 $ 时(半导体界面):
曲线部分超出 0 的临界线,此时界面要么以固态原子为主,要么以液态原子为主,兼具粗糙和光滑特性。 - $ \alpha > 10 $ 时(光滑界面):
曲线几乎上凸,界面保持固态原子的光滑面,液体原子只能沿光滑界面一层一层生长,显微观察显示由不同位相的界面组成。
知识点7:(内部因素)材料熔化熵与晶体的生长方式
熔化熵是表征材料晶体生长特征的基本参数,常表示为:
$$ \alpha = \frac{\Delta S_m}{R} = \frac{L_m}{R T_m} $$
其中:
- $ \Delta S_m $:熔化熵。
- $ R $:气体常数。
- $ L_m $:熔化焓(即摩尔熔化热)。
- $ T_m $:理论凝固温度。
根据 $ \alpha $ 的值,纯物质的晶体生长可分为三种情况:
- $ \alpha < 2 $(粗糙界面):
多数金属属于此类,液态原子在生长时可在界面任意位置转移到固相,固液之间无明显分界面。 - $ 2 < \alpha < 4 $(半导体界面):
半导体材料(如硅、锗)及金属(如锑、铋)属于此类,晶体只能一层一层生长,需铺满一个平面后才开始下一平面。 - $ \alpha > 4 $(光滑界面):
高分子材料及结构复杂的材料属于此类,生长几乎完全依赖形核,凝固过程的快慢取决于形核速率。
知识点8:(外部因素)温度梯度对形核的影响
正温度梯度:
此时晶体只能沿晶界生长,热量依赖向晶体内部的固态热量传递。- 相比密排面,非密排面液体原子更容易加入,生长较快。
- 但非密排面因快速进入过冷度太小的液面而停止生长,最终表现为平面式推进,露出低指数的密排面。
负温度梯度:
非密排面先长出的晶体会加速生长,形成枝晶,并在快速生长中形成二次枝干。- 若枝晶在生长过程中形成闭合液体区域,将导致孔洞产生,形成较大的缺陷(如缩孔)。